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QN8500 膜厚计

  • 更新日期:2024-10-28

只需调零,无需校准
测量精度高
一体分体通用
可配多种探头
中英文菜单操作
智能化
带存储,并可连计算机对数据进行处理分析
可连接薄镀层探头,对极薄的镀层厚度精确测量,误差小于±3um

可选探头:
Fe铁基探头:0-2000um 0-5000um
Nfe非铁基探头:0-2000um 0-5000um
NFe/Fe两用探头:0-2000um 0-5000um
无线传输探头
薄镀层探头

 

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